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島津 EDX-LEplus 操作指南
點擊次數：177 更新時間：2025-11-12
島津能量色散X射線熒光光譜儀EDX-LE Plus
技術參數：
1. 測定原理 X射線熒光分析法
2. 測定方法 能量色散型
3. 測定對象 固體、液體、粉狀
4. 測定范圍 13Al -92U
5.樣品室尺寸 較大W370mm×D320mm×H155mm
6. 制冷方式 電子制冷
7. 一次濾光片 5種+OPEN自動交換
8. 軟件 篩選分析、定性分析、定量分析
能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE Plus是一款專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（高分辨率SDD）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外，最近幾年在眾多企業中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置作為中國版RoHS2.0應對手段。
追求省時省力，高速篩選分折
降低運行成本、減少日常維護量
配備只針對RoHS法規有害5元素+氯元素所需的 篩選分析功能
配備篩選輕松設定功能，能夠根據管理方法輕松自定義
深入淺出
利用［篩選分析］畫面、操作簡單方便
從主成分判定到條件選擇全部實現自動處理
配備所有功能
標準配備了RoHS/ELV分析所需的各種功能
超大樣品室，可直接測試大型樣品
針對外檢等可對多數產品以管理值為標準檢測有害元素含量是否達標而使用的篩選分析，被進一步要求其提高現場操作性和降低運行成本。而EDX-LE Plus就是為了應對這種需求開發出來的裝置。
自動老化功能
由于配備了無需液氮進行冷卻的檢測器，因此大幅削減了使用時的運行成本。
為延長X光管的壽命而進行的光管老化（穩定性運轉）是裝置管理上。在裝置長期不運行的情況下，再次啟動時需要對X射線光管進行老化處理，而該裝置可自動執行該功能以防故障發生，進而提高操作性。
裝置自檢功能
為了隨時得到準確的分析結果裝置需要進行校正，而用戶們希望盡可能在短時間內完成校正時的操作和判定。EDX-LE Plus在開啟儀器后會對能量校正和定量值校正的操作進行幫助，當需要進行校正時會自動進行校正。
盡可能將需要熒光X射線分析知識的操作步驟自動化，可進行RoHS法規5元素+氯元素（選配）的高速篩選分析。EDX-LE Plus從開始分析到得到結果只需要（根據樣品）約1分鐘。不僅可進行高速篩選分析，同時維持了高可信性的分析水平
電源ON之后只需15分鐘的穩定時間就可開始分析。當對象元素含量合格與否的判定確認后，為縮短時間裝置會自動停止測定，但該儀器也可進行高靈敏度、高可信性的分析。裝置內置有1點工作曲線可進行無標樣的定量分析。下圖為塑膠材料（PVC材料包裹的線材）的測定實例。管理標準簡單的顯示為OK、NG、灰色區域。 *本實例的管理標準設定為RoHS法規最大允許濃度標準。
在日常操作中根據產品的不同會經常變更管理值，而該產品可以根據管理方法對篩選分析條件輕松自定義。從開始分析到制成分析報告所有操作都可以更有效的進行。另一方面，該裝置在軟件操作上配備了權限限制設定，從而避免了沒有變更篩選分析條件權限的人員由于誤操作而改變條件的現象。
根據材質和元素設定閾值。根據閾值的輸入方法來變更篩選分析的判定方式。閾值設定可依據根據材質的不同所顯示的閾值下限。
在分析報告中如何表示分析結果“低于閾值"“灰色區域"“閾值范圍內"，也可自定義設置。
分析報告的模版也可以設定。可在隨機附帶的模版中選擇。
通過輸入密碼可變更篩選分析條件和環境設定等各類設定條件，從而提高軟件操作的安全性和保密性。
操作簡便，一個指令即可開始全自動測定。測定條件的選擇過去一直依賴操作者的判斷，現在改由裝置自動判斷，即使初學者也可簡便·高精度地測定。
1st Step
將樣品放在分析位置，利用樣品圖像觀察裝置確認分析位置。
選擇分析區域。
關閉樣品室。
2nd Step
一個畫面中可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
點擊開始
3rd Step
測定結束后，畫面上將清楚顯示5種元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（測定偏差）］。
點擊即可顯示［結果列表］或［創建報告書］。
只需1次點擊，便可根據預先登錄的分析條件，自動執行從測定到結果的一系列操作。
EDX-LE Plus標準配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，就可以獲得最佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統。
10mmφ圖像（塑膠）
3mmφ（金屬）
測定異物或者測定包含多個部位的樣品時，通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時，可以簡單的設定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時，可以使用準直器，更改X射線照射區域。（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）
即使含量相同的樣品，在形狀和厚度不同時，X射線強度將發生變化，得到的定量值也會受到影響，EDX-LE Plus通過使用BG內標法*，可以排除形狀和厚度的影響，取得高精度結果。
※BG內標法 通過散射X射線強度使各元素的X射線熒光強度標準化的一種校正方法。
已保存數據可以用Excel形式列表顯示。
超大樣品室可以對應各種樣品形態及大小。
最大可以放置370mm長×320mm寬×155mm高的大型樣品，令緊湊型機。
在RoHS/ELV、鹵素篩選分析基礎上實現Sb元素的測定
• 無需改造硬件 • 僅需替換管理樣品 • RoHS指令、鹵素和Sb元素的7種元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr,Cl,Sb)能夠在「同一條件」下進行測定
※初次導入時需要本公司工程師進行軟件設定的變更及性能確認。※根據使用環境的不同有可能出現需要軟件升級的情況。規格
| 材 質 | 聚乙烯樹脂 |
| 大 小 | 48mm |
| 厚 度 | 5mm |
| 添加元素 | Cd, Pb, Hg, Br, Cr, Cl, Sb |
可以同時進行Sb元素的篩選分析
RoHS指令、鹵素和Sb元素的7種元素能夠在“同一條件"下進行測定。
EDX-LE Plus 測定Cl、Sb塑膠中Cl、Sb
塑膠中Cl、Sb不同濃度の光譜比較和RoHS篩選分析同樣，EDX-LE Plus 也可進行Cl、Sb的篩選分析。特別是Cl篩選分析可直接在大氣環境下進行，大氣環境中Ar和Cl的峰值區分明顯。
RoHS/ELV篩選專用機型EDX-LE Plus同樣具備一般分析功能！
導入后特點
1. 可進行RoHS/ELV對象元素以外的定性·定量分析！2. 根據分析目的的不同，可設定詳細的分析條件和解析條件！3. 可通過薄膜FP法分析多層膜的膜厚、組成及其附著量！4. 可通過匹配功能進行鋼種及種類的判斷！
詳細情況敬請咨詢當地銷售。
使用功能追加套件的分析實例
分析實例（左：不銹鋼的定性?定量分析，右：鍍層的膜厚測定）
匹配功能（鋼種、種類判斷）
匹配結果
